数显测高仪概述和检定方法

数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量仪表，用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等，其结构示意图所示。量程有500 mm, 800 mm和1000 mm等规格，仪表分为0级、1级和2级。
技术需要和检定方法
外观
需要
仪表运作面不应有锈迹、碰伤、毛刺及划痕等缺陷，仪表非运作面不应有涂镀
层脱落及生锈等疵病。钢带应平整、光滑，不应有皱摺。
铭牌上应有制造厂名(或厂标)和出厂编号等标志。
标志、刻字和刻线应正确和清晰口
使用中和修理后的仪表，允许有不影响仪表使用功能和准确度的上述缺陷。
检定方法:目力观察。
各部分相互作用及一般性能
需要
运动部分应灵活、平稳、无卡滞现象，止动可靠。
启动气泵后，在光滑平板上移动仪表应轻松自如。
电气部分的开关、按键应灵敏可靠，指示灯和显示单元应运作

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